[发明专利]天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质在审
| 申请号： | 202210509793.4 | 申请日： | 2022-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN114993169A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 杨淑红 | 申请（专利权）人： | 北京润科通用技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 高勇 |
| 地址： | 100191 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质，可以获取待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识。然后通过激光测距机器人获取的每个校准点的三维坐标，确定待测天线阵面坐标系上的位置标识和激光测距机器人的坐标系的坐标变换关系。再获取待测天线阵面上与地面相平行的行中的两个测试点的位置标识。通过获取的两个测试点的相应的三维坐标，确定待测天线阵面坐标系上的位置标识和激光测距机器人的坐标系的方位角变换关系。通过坐标变换关系和方位角变换关系确定待测天线阵面的坐标系和激光测距机器人的坐标系的变换关系。实现在激光测距机器人的坐标系的基础上得到天线阵面的坐标系。使得到的天线坐标定位数据更加的精准可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 天线阵 定位 校验 方法 装置 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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