[发明专利]天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质在审
| 申请号: | 202210509793.4 | 申请日: | 2022-05-11 |
| 公开(公告)号: | CN114993169A | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
| 发明(设计)人: | 杨淑红 | 申请(专利权)人: | 北京润科通用技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高勇 |
| 地址: | 100191 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 天线阵 定位 校验 方法 装置 系统 存储 介质 | ||
本发明提供了天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质,可以获取待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识。然后通过激光测距机器人获取的每个校准点的三维坐标,确定待测天线阵面坐标系上的位置标识和激光测距机器人的坐标系的坐标变换关系。再获取待测天线阵面上与地面相平行的行中的两个测试点的位置标识。通过获取的两个测试点的相应的三维坐标,确定待测天线阵面坐标系上的位置标识和激光测距机器人的坐标系的方位角变换关系。通过坐标变换关系和方位角变换关系确定待测天线阵面的坐标系和激光测距机器人的坐标系的变换关系。实现在激光测距机器人的坐标系的基础上得到天线阵面的坐标系。使得到的天线坐标定位数据更加的精准可靠。
技术领域
本发明涉及天线阵面测试技术领域,具体涉及一种天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质。
背景技术
现有的相控阵天线阵面的扫描校准大都采用将已知的定位标准件所提供的确定位置作为天线阵面所在的位置,对天线阵面进行拍照成像后进行修正分析,将得到的数据与定位标准件的位置数据进行比较修正,以得到天线阵面的准确坐标数据。
上述定位方法对标准件的制作要求较高,一旦定位标准件存在误差对天线阵面的修正将产生较大的影响,并且需要较大的拍照成像设备操作起来非常的不便。
发明内容
为了解决现有技术存在的误差大、制作要求高的问题,本发明提供了一种天线阵面定位、校验方法、装置、设备和存储介质,其具有误差更小、精度更高、操作更加便利等特点。
根据本发明具体实施方式提供的一种天线阵面定位方法,包括:
获取待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识,其中至少一个校准点与其他校准点不在同一直线上;
基于待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标,确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系,将该变换关系作为坐标变换关系,所述激光测距机器人通过对准每个所述校准点以获取每个校准点的三维坐标;
获取所述待测天线阵面上的两个测试点的位置标识,所述两个测试点位于所述待测天线阵面上与地面相平行的行;
基于所述待测天线阵面上的两个测试点的位置标识和所述激光测距机器人获取的所述两个测试点的三维坐标,确定所述待测天线阵面所在平面和所述激光测距机器人的坐标系在旋转方向上的位置关系,将该位置关系作为方位角变换关系,其中所述校准点和所述测试点均位于所述待测天线阵面上的天线安装位,所述位置标识包括所述天线安装位所在的行数和列数,所述激光测距机器人通过对准每个所述测试点以获取每个所述测试点的三维坐标;
基于所述坐标变换关系和所述方位角变换关系确定所述待测天线阵面的坐标系和所述激光测距机器人的坐标系的变换关系。
进一步地,所述坐标变换关系包括:XZ轴平面坐标变换关系,所述基于待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标,确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系,包括:
将所述激光测距机器人所在平面作为XZ轴平面,基于每个所述校准点的三维坐标的中的XZ轴坐标,确定所述待测天线阵面坐标系上的位置标识和所述激光测距机器人在所述XZ轴平面上的XZ轴平面坐标变换关系。
进一步地,所述坐标变换关系还包括:Y轴坐标变换关系,所述基于待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标,确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系,还包括:
基于每个所述校准点的三维坐标的中的Y轴坐标,确定所述待测天线阵面与所述XZ轴平面的夹角,将所述夹角作为所述Y轴坐标变换关系。
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