[发明专利]应用于FPGA的失效定位方法在审

专利信息
申请号: 202210502701.X 申请日: 2022-05-10
公开(公告)号: CN115048248A 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 郑赫男;袁智皓 申请(专利权)人: 上海安路信息科技股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 吕金金
地址: 200434 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了应用于FPGA的失效定位方法。该方法通过根据被测芯片的底层物理网表和原始代码,确定用于失效分析的代码块范围;对所述代码块范围对应的底层电路进行二次布线操作,将所述底层电路的多个fabric电路的中间节点数据引出到芯片外;根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表,生成以代码块为单位的多套测试集,每套测试集包括多个测试pattern;根据所述多个测试集对被测芯片进行实测,并收集失效信息;根据所述失效信息,定位至芯片失效的物理位置。本发明技术方案通过保留原始物理网表和复现失效,实现了缩小失效范围和精确定位失效位置。
搜索关键词: 应用于 fpga 失效 定位 方法
【主权项】:
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