[发明专利]基于高阶统计和非均匀阵列的欠定参数联合估计方法在审

专利信息
申请号: 202210473845.7 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114884841A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 彭薇;李鹏;江涛 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H04L43/0852 分类号: H04L43/0852;H04L25/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 胡佳蕾
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于高阶统计和非均匀阵列的欠定参数联合估计方法,包括:获取单样本频域信道数据;采用前后向平滑技术计算四阶累积量对角切片矩阵,利用正交传播算子方法构造时延估计空间谱,搜索谱峰得到时延估计值;计算时延域滤波向量,分离各时延估计值对应的频域信道数据;使用各时延估计值对应的频域信道数据计算高阶累积量矩阵,构造到达角估计空间谱,搜索谱峰得到到达角估计值;利用已经估计且自动配对的时延估计值和到达角估计值,向量化信道数据,基于最小二乘原则估计多径信号复增益值。本发明只需单样本,能够在欠定场景中进行高精度高准确度的多参数联合估计,且估计自由度大、估计精度高、计算复杂度小、对噪声的鲁棒性大。
搜索关键词: 基于 统计 均匀 阵列 参数 联合 估计 方法
【主权项】:
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