[发明专利]一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202210472219.6 | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114966366A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 秦贺;冯长磊;陈雷;张彦龙;李晓龙;武昊男;魏晓飞;阎渊海;张拓;王炳雅;苏浩淼 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张辉 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统及测试方法，基于信息处理微系统内部大容量逻辑存储单元、可编程单元、高性能运算单元构建总线接口测试配合电路，搭建具备电源供给、时序同步能力的总线接口测试设备，开发具备测试开发、测试运行、数据分析和辅助管理功能的测试主控单元，该测试主控单元与微系统主控单元配合进行测试，通过运行微系统端测试程序与测试设备端测试程序，用测试夹具将测试设备与信息处理微系统上待测总线接口连接起来，实现信息处理微系统总线接口通信功能测试。本发明有效提高了信息处理微系统总线接口功能测试效率，可用于信息处理微系统大批量生产测试，降低生产成本，可以广泛应用于各类型微系统的总线接口功能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 信息处理 系统 总线接口 测试 方法 | ||
【主权项】：
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