[发明专利]一种芯片验证方法、装置、电子设备以及存储介质在审
| 申请号： | 202210467033.1 | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114818600A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 沈煜;胡英俊;徐宁仪 | 申请（专利权）人： | 上海阵量智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06N3/063;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人： | 袁忠林 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待校验神经网络；针对所述待校验神经网络包括的至少一种原始算子的算子类型，生成与所述算子类型一致的目标算子；利用所述目标算子对所述待校验神经网络中对应的原始算子进行替换，生成替换后神经网络；利用训练样本，分别对所述替换后神经网络和所述待校验神经网络进行训练，得到所述待校验神经网络对应的第一训练结果、和所述替换后神经网络对应的第二训练结果；基于所述第一训练结果和所述第二训练结果，生成待验芯片对应的校验结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 电子设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
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