[发明专利]一种芯片的供电测试治具在审
申请号: | 202210445318.5 | 申请日: | 2022-04-26 |
公开(公告)号: | CN114859084A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 梁巍;尤炎炎;王长江;田桂霞;李量;甘飞;陈奔;朱宇 | 申请(专利权)人: | 亨通洛克利科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28;H01L35/00 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人: | 刘晨 |
地址: | 215200 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片的供电测试治具,包括:芯片底座,所述芯片底座上设有多个芯片限位槽和芯片限位挡台,所述芯片限位槽与芯片限位挡台连接,所述芯片限位槽内设有芯片,所述芯片限位槽和所述芯片限位挡台相互配合对芯片进行限位,所述芯片上设有电路板,且所述芯片与所述电路板可拆卸式电连接以能够实现对芯片的供电测试;这样不仅在芯片的供电测试过程中实现了对芯片的无损限位,更避免了在测试过程中探针对芯片表面焊盘测试定位难和划伤芯片表面焊盘的技术问题,提高了生产效率的同时还降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 供电 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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