[发明专利]一种通过TGDSC收集细颗粒物测试SEM和TEM的方法在审

专利信息
申请号: 202210430866.0 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN114778372A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 余亮;张露;贾佳琦;韩富年;卢有余;汪然 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04;G01N15/02;G01N23/04;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N23/2251
代理公司: 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 代理人: 程皓
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种通过TGDSC收集细颗粒物测试SEM和TEM的方法,包括以下步骤:步骤一、通过在TGDSC仪器出气口的管道上安装一个含有气体过滤膜的气体采样夹,然后将单晶硅片和带碳膜的铜网通过双面胶固定在滤膜上;本发明由于TGDSC的实验过程中可以改变的实验参数很多,可以对样品的温度范围,样品量,升温速率,气体种类,气氛和气体流量进行调节,也可以通过改变样品的化学成分进行TGDSC实验得到不同实验条件下的热反应过程,同时可以收集对应反应过程下的细颗粒物用于SEM和TEM分析,最后建立起燃烧动力学和细颗粒物生成规律,为控制细颗粒物的生成提供一个有效的实验室解决方案。
搜索关键词: 一种 通过 tgdsc 收集 颗粒 测试 sem tem 方法
【主权项】:
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