[发明专利]一种可编程集成电路自动化测试系统及方法在审
| 申请号： | 202210424535.6 | 申请日： | 2022-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN115267515A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 张丁;陈雷;周亮;张彦龙;李学武;孙华波;张帆;吴英哲;李明哲;马筱婧;单连志 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3181;G01R31/3185;G06F8/61 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 徐晓艳 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种可编程集成电路自动化测试系统及方法，系统包括上位机、通信模块、主控FPGA以及待测FPGA模块；上位机向主控FPGA发送待测的码流，并控制其对待测FPGA模块的码流烧写。在烧写阶段，上位机将码流发送至主控FPGA，主控FPGA再将码流发送回上位机进行校验，校验通过后上位机向主控FPGA发送烧写指令，控制主控FPGA向待测FPGA烧写码流；在测试阶段，主控FPGA根据上位机的指令向待测FPGA发送激励，并采集待测FPGA的响应，根据响应生成指令反馈给上位机；在循环遍历阶段，上位机通过对测试结果的判断，对测试流程进行控制，能够自动化、批量式地完成多个码流的烧写与测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可编程 集成电路 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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