[发明专利]一种基于白光干涉测量的微沟槽特征分割方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210406408.3 申请日: 2022-04-18
公开(公告)号: CN114693936A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 雷自力;刘晓军;赵丽 申请(专利权)人: 华中科技大学;湖北爱默思智能检测装备有限公司
主分类号: G06V10/26 分类号: G06V10/26;G06V10/44
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 胡秋萍
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于白光干涉测量的微沟槽特征分割方法及系统,属于图像处理领域;通过对微沟槽三维图像中台阶、过渡区域、沟道以及噪声的特征进行分析发现,当采用高度和梯度两种属性进行描述时,各种特征内部均匀具有一致性,特征之间的差异比较大,并且特征之间的属性描述基本不交叉,本发明采用高度和梯度两个参数作为二维属性来描述各个特征,能够规避噪声所带来的影响,同时对台阶、过渡区域、沟道三种待提取特征的区别化描述能力也较强;另外,本发明采用表面特征的概率描述方法,基于最大信息熵原理实现对沟槽微结构特征的自动分割,获得用于评定的各种特征的高度矩阵;这个过程无需人工干涉,分割效率及准确性较高,确定性也较强。
搜索关键词: 一种 基于 白光 干涉 测量 沟槽 特征 分割 方法 系统
【主权项】:
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