[发明专利]测定装置及测定方法在审
| 申请号： | 202210389822.8 | 申请日： | 2022-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN115333981A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 一山清隆 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | H04L43/087 | 分类号： | H04L43/087;G06F1/06 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀锋 |
| 地址： | 日本东京千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的测定装置具备：时钟产生部，产生采样时钟，该采样时钟具有比包含预定符号数量的符号的被测定码型的符号周期长的采样周期；采样部，根据采样时钟来对重复输入的被测定码型进行采样；以及测定部，根据重复输入的被测定码型的作为抖动测量对象的符号跳变所对应的时间点的采样时钟，来测定采样部的采样结果。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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