[发明专利]一种基于机器学习的检测元件校准系统

摘要

本发明涉及一种基于机器学习的检测元件校准系统，所述校准系统包括采集单元、校准比对单元、计算单元以及监察单元；所述采集单元用于采集待校准元件的实际检测量，以及采集可能影响待校准元件的检测量的多个外部变量；所述校准比对单元用于将待校准元件与标准元件进行比对从而计算出待校准元件的差异值；所述计算单元通过计算多个外部变量与差异值的相关性，选择其中最具相关性的两个外部变量建立第一相关性模型用于预测差异值；进一步的，通过分析校准该差异值的效益值，获得效益最高的实施校准时的差异值节点，再通过监察单元采集的外部变量，推算实施校准的差异值节点。本发明的校准系统区别以往以固定的校准周期实施对检测元件的校准，通过推算最优的校准时间节点，从而提高校准的效益值。