[发明专利]命令序列生成方法、测试方法、设备以及存储介质在审
| 申请号： | 202210337896.7 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN116932366A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 李钰;吴长青 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 张李静;胡春光 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开实施例提供了一种命令序列生成方法、测试方法、设备以及存储介质，该命令序列生成方法包括：根据当前状态，基于状态机模块确定至少一个可执行命令；获取所述至少一个可执行命令对应的命令权重，并将所述命令权重作为约束条件从所述至少一个可执行命令中产生随机命令；根据所述随机命令基于所述状态机模块确定下一状态，将所述下一状态作为当前状态，并继续执行所述根据当前状态，基于状态机模块确定至少一个可执行命令的步骤，以生成随机命令序列。这样，根据该随机命令序列进行测试，不仅可以提高DRAM产品功能测试覆盖率，还可以提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 命令 序列 生成 方法 测试 设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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