[发明专利]四线测试双通道探针组件在审
| 申请号： | 202210332953.2 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN114910677A | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 赵志刚;文东升 | 申请（专利权）人： | 苏州市科林源电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 陈钦泽 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种四线测试双通道探针组件，包括PCB板件、上探针组件、下探针组件，PCB板件设有测试通孔，测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，上探针组件的组成结构与下探针组件相同，侧部衔接端面与通孔孔环的内壁接触。采用侧部衔接端面通孔孔环的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在PAD造成误测的问题，解决了PAD表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 双通道 探针 组件 | ||
【主权项】：
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