[发明专利]四线测试双通道探针组件

说明书

本发明公开了一种四线测试双通道探针组件，包括PCB板件、上探针组件、下探针组件，PCB板件设有测试通孔，测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，上探针组件的组成结构与下探针组件相同，侧部衔接端面与通孔孔环的内壁接触。采用侧部衔接端面通孔孔环的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在PAD造成误测的问题，解决了PAD表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。

技术领域

本发明涉及PCB测试领域，尤其涉及一种四线测试双通道探针组件。

背景技术

目前，PCB、FPC的孔电阻测试中，一般采用4线方法，在孔的两端分别放两根探针，组成4线测试回路。其中两根探针加载电流，另外两根探针测量电压。

但是，现有的4线方法在孔电阻测试时存在以下缺陷：

1、线性探针的直径一般70um左右，孔环接触部位范围为01.-0.3mm之间，在测试时，线性探针需要与孔环接触部位触碰，实际产品出现涨缩，偏移的问题，线性探针未与孔环接触部位触碰，线性探针落在孔环外围，导致无法测试，测试具有局限性。

2、线性探针的头部容易弯曲，造成PAD表面打痕。

3、多只探针并联测试，成本增加，如遇到客户产品孔环0.2mm时，无法使用探针测试。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种四线测试双通道探针组件，其能解决测试具有局限性的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种四线测试双通道探针组件，包括PCB板件、上探针组件、下探针组件，所述PCB板件设有测试通孔，所述测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；所述上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，所述测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，所述测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，所述弧形衔接段的两端分别与所述上侧接触盘、横向衔接段衔接，所述竖直衔接段的两端分别与所述横向衔接段、尾部连接片衔接；所述尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，所述上探针组件的组成结构与所述下探针组件相同，所述侧部衔接端面与所述通孔孔环的内壁接触。

进一步地，所述横向衔接段的延伸方向与所述竖直衔接段的延伸方向垂直。

进一步地，所述横向衔接段、尾部连接片位于所述竖直衔接段的同一侧，且所述横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片整体呈U型分布。

进一步地，所述尾部连接片呈三角形。

进一步地，所述尾部连接片呈直角三角形。

进一步地，所述侧部衔接端面呈弧形或斜面状，所述侧部衔接端面凸出于所述铜片安装槽。

进一步地，所述测试组件包括连接杆、设置于连接杆端部的安装盘、设置于安装盘上的端部衔接片，所述铜片安装槽位于所述安装盘和所述端部衔接片上。

进一步地，所述端部衔接片的延伸方向与所述安装盘的表面垂直。

进一步地，所述上探针组件还包括对称铜片，所述对称铜片与测试接触铜片沿所述连接杆的轴线对称分布。

进一步地，所述测试组件上设置有两个铜片安装槽，分别用于安装所述对称铜片与测试接触铜片。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：