[发明专利]测试电路、芯片、电子设备及测试系统在审
| 申请号： | 202210331628.4 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN116932309A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 罗桂涛;卢新元;高国重 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/273 | 分类号： | G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 梁瑜;黄健 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种测试电路、芯片、电子设备及测试系统，包括映射电路、IP核和响应电路，其中，映射电路的输出端与IP核的输入端的连接，IP核的输出端与响应电路的输入端连接；映射电路，用于接收自动测试设备发送的第一测试数据，并将第一测试数据映射为第二测试数据，其中，第二测试数据的数据维度与IP核的输入端的数据通道的数量相同；IP核，用于接收第二测试数据，并对第二测试数据进行处理，得到响应数据；响应电路，用于将响应数据发送至自动测试设备，其中，响应数据和第一测试数据用于确定IP核的故障信息。避免了对IP核进行内部扫描设计导致的IP核性能下降的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 芯片 电子设备 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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