[发明专利]基于差分结构的SAR ADC失调误差校正方法及电路有效

专利信息
申请号: 202210325341.0 申请日: 2022-03-30
公开(公告)号: CN114614821B 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 解滢澳 申请(专利权)人: 广东齐芯半导体有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/08;H03M1/06
代理公司: 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343 代理人: 周冬文
地址: 518103 广东省珠海市横*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种基于差分结构的SAR ADC失调误差校正方法及电路,该校正方法包括:在校正逻辑模块的驱动下,通过对P辅助校正电容阵列和N辅助校正电容阵列中的辅助校正电容进行n次逻辑切换和判断,得到n位的校正结果信息;利用校正逻辑模块对所述校正结果信息进行编码,得到补偿方向信息和校正补偿值;所述补偿方向信息表征了补偿的类型;所述校正补偿值表征了补偿的电压值大小;在正常工作阶段,根据所述校正逻辑模块输出的所述校正补偿值和所述校正补偿方向信息,对ADC失调误差进行校正。
搜索关键词: 基于 结构 sar adc 失调 误差 校正 方法 电路
【主权项】:
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