[发明专利]调节电路测试方法及设备在审
申请号: | 202210320875.4 | 申请日: | 2022-03-29 |
公开(公告)号: | CN116935942A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 李钰;史腾 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G06F1/04 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 李兴福;黄健 |
地址: | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本公开实施例提供了一种调节电路测试方法及设备,该方法应用于测试平台,上述调节电路包括占空比调节电路,该方法包括:根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据;根据第二读写时钟信号从上述指定存储地址接收读取数据,并根据上述写入数据与读取数据,生成上述占空比调节电路的测试结果;其中,上述占空比调节电路用于对第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号进行调节操作,对应生成上述第一读写时钟信号和第二读写时钟信号,上述第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号的占空比具有第一偏差值。本公开实施例可以准确检测出上述占空比调节电路是否处于有效状态。 | ||
搜索关键词: | 调节 电路 测试 方法 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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