[发明专利]一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及测量方法在审
申请号: | 202210306651.8 | 申请日: | 2022-03-25 |
公开(公告)号: | CN114720001A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 夏豪杰;倪岚霖;许非凡;李维诗;赵会宁;常松涛 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 北京科名专利代理有限公司 11468 | 代理人: | 陈朝阳 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及方法,激光器发出光束,经过分束器透射到达空间光调制器,生成待测的拉盖尔高斯光束,该光束经过分束器后分为透射拉盖尔高斯光束和反射拉盖尔高斯光束,透射拉盖尔高斯光束经过分束器反射后由平面镜反射作为拉盖尔高斯光束的镜像光束照在分束器上,而经分束器透射的拉盖尔高斯光束经正三角孔衍射进入CCD相机成像;反射拉盖尔高斯光束经反射镜后作为拉盖尔高斯光束照到分束器上;拉盖尔高斯光束与其镜像光束经分束器干涉叠加;干涉叠加的光强进入CCD相机成像,通过对采集的干涉强度图和衍射强度图进行分析从而获得涡旋光拓扑荷数的大小和符号。 | ||
搜索关键词: | 一种 盖尔 光束 拓扑 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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