[发明专利]一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 202210306651.8 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114720001A 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 夏豪杰;倪岚霖;许非凡;李维诗;赵会宁;常松涛 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 北京科名专利代理有限公司 11468 代理人: 陈朝阳
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及方法,激光器发出光束,经过分束器透射到达空间光调制器,生成待测的拉盖尔高斯光束,该光束经过分束器后分为透射拉盖尔高斯光束和反射拉盖尔高斯光束,透射拉盖尔高斯光束经过分束器反射后由平面镜反射作为拉盖尔高斯光束的镜像光束照在分束器上,而经分束器透射的拉盖尔高斯光束经正三角孔衍射进入CCD相机成像;反射拉盖尔高斯光束经反射镜后作为拉盖尔高斯光束照到分束器上;拉盖尔高斯光束与其镜像光束经分束器干涉叠加;干涉叠加的光强进入CCD相机成像,通过对采集的干涉强度图和衍射强度图进行分析从而获得涡旋光拓扑荷数的大小和符号。
搜索关键词: 一种 盖尔 光束 拓扑 测量 装置 测量方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210306651.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top