[发明专利]棒束通道内棒束表面液膜二维厚度场测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210301445.8 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114739278B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 肖瑶;顾汉洋;张亨伟;闫旭;陈硕;李俊龙 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种棒束通道内棒束表面液膜二维厚度场测量方法及系统,方法包括:通过标定实验装置获取第一电流信号测量值,通过构造的敏感标定体的体积与第一电流信号测量值的非线性关系,生成非线性曲线关系图;通过实际测量装置中构造的环形金属丝阵列传感器,控制测量获取棒束通道内的第二电流信号测量值;利用环形金属丝阵列传感器的形状特点以及非线性曲线关系图,迭代计算获取第二电流信号估算值,当第二电流信号测量值与第二电流信号估计值之间的误差值低于相对误差阈值时,输出所对应的棒束通道内壁液膜厚度值。本发明通过棒束通道内产生的瞬时电流信号,利用标定计算以及不断迭代计算以减少标定计算的误差,从而获得一段时间内,棒束通道特定发展位置处棒束表面轴向和周向液膜厚度的演化情况。
搜索关键词: 通道 内棒束 表面 二维 厚度 测量方法 系统
【主权项】:
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