[发明专利]一种晶舟盒内晶圆位置检测装置有效
申请号: | 202210289165.X | 申请日: | 2022-03-23 |
公开(公告)号: | CN114379830B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 乔从缓;闻国涛;乔立宝;于文奇;孙玉男 | 申请(专利权)人: | 南京伟测半导体科技有限公司 |
主分类号: | B65B7/28 | 分类号: | B65B7/28;B65B57/20;G01B11/00 |
代理公司: | 郑州裕晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41142 | 代理人: | 田由甲 |
地址: | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种晶舟盒内晶圆位置检测装置,包括处理单元和输送带,所述输送带上依次设置有合盖位和后拍照位,所述输送带上方对应合盖位设置有合盖机械臂,所述输送带上方对应后拍照位设置有后拍照机械臂;所述后拍照机械臂包括可上下伸缩的第三伸缩架和设置在第三伸缩架上的后拍照机组,所述后拍照机组包括从前方、后方、左方、右方和上方分别对到达后拍照位的晶舟盒拍照的五个相机;通过后拍照机组对盖上盒盖的盒体进行拍照,分辨晶舟盒的盒盖是否盖好、晶舟盒内的晶圆的位置是否正确,若一旦有位置错误,则报警提醒人工介入处理,防止晶圆由于位置错位而导致的后续运输过程中出现晶圆破裂等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶舟盒内晶圆 位置 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京伟测半导体科技有限公司,未经南京伟测半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210289165.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。