[发明专利]一种测试蓝相I在电场中的三维晶格常数的方法在审
| 申请号： | 202210264115.6 | 申请日： | 2022-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN114544517A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 张宇贤;王琼华;储繁;郭玉强;沈田子;段薇 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/47 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种测试蓝相I在电场中的三维晶格常数的方法，该方法基于科塞尔衍射和布拉格反射光谱两种光学表征手段，利用孪晶结构的特殊对称性，通过对蓝相I的孪晶结构分别在零场和电场中进行原位测试，可计算得出蓝相I在不同电场强度下的三维晶格常数。模拟实验结果表明，通过该方法测试所得的蓝相I三维晶格常数与实际数据吻合度较高。该方法适用于在零场和低电场强度下对蓝相I的三维晶格常数进行实时测试，具有操作简便、测试参数少和精度高(±10nm)等优点，对于开发高性能的蓝相电光器件具有实际参考价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电场 中的 三维 晶格 常数 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210264115.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种链板加工用加热折弯设备
- 下一篇：电子设备组装装置和电子设备组装方法
