[发明专利]一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法在审
| 申请号： | 202210258942.4 | 申请日： | 2022-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN114707099A | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 朱爱军;宋磊;胡聪;牛军浩;万春霆;许川佩 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F17/10 | 分类号： | G06F17/10;G02F3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法，该方法主要涉及光片上网络领域，具体在基于微环谐振器(MRR)的逻辑计算电路中，主要用于分析和计算由两个MRR故障而引起的误差。该方法包括，获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果，比较每一位正确输出结果和每一位错误输出结果之间的关系，计算正确输出结果和错误输出结果之间的位翻转误差、最大位翻转误差以及整个逻辑计算电路的误差概率。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算，具体以由3个MRR构成的二进制全光比较器的双故障模拟装置为例进行实施。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二进制 比较 故障 误差 计算方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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