[发明专利]一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法

权利要求书

1.一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法，其特征在于，包含由n个MRR构成的逻辑计算电路，该电路共包括N种输入组合，每种组合可产生m位输出结果；由n个MRR构成的二进制全光比较器逻辑计算电路可分为的无故障模拟等效电路和双故障模拟等效电路，根据所述无故障模拟等效电路可获得正确的输出结果，根据双故障模拟等效电路可获得错误的输出结果；

根据所述正确的输出结果和所述错误的输出结果，比较每一位正确输出结果和每一位错误输出结果之间的关系，计算二者之间的位翻转误差(bit flip error，BFE)，最大位翻转误差(maximum bit flip error，MAXBFE)，以及N种输入组合中的误差概率(errorprobability，EP)。

2.根据权利要求1所述的二进制全光比较器的双故障误差计算方法，其特征是，比较每种输入组合中所述每一位正确输出结果和所述每一位错误输出结果之间的关系，计算所述正确的输出结果和所述错误的输出结果之间的位翻转误差(bit flip error，BFE)，所述BFE具体表达形式如下：

所述i代表第i种输入组合，所述i包含于N之中，所述为异或，所述代表第i种输入组合下的错误输出的第j位逻辑值，所述O_i^correct代表第i种输入组合下的正确输出的第j位逻辑值。

3.根据权利要求1所述的二进制全光比较器的双故障误差计算方法，其特征是，计算所述N种输入组合产生的全部所述BFE的最大值为所述最大位翻转误差(maximum bit fliperror，MAXBFE)，即所述N种输入组合中由双故障造成的最坏结果，所述MAXBFE具体表达形式如下：

4.根据权利要求1所述的二进制全光比较器的双故障误差计算方法，其特征是，计算所述N种输入组合因双故障而发生误差的概率，即误差概率(error probability，EP)，所述EP具体表达形式如下：