[发明专利]一种用于周期可调同轴激光超声检测的光学系统在审
申请号: | 202210256344.3 | 申请日: | 2022-03-15 |
公开(公告)号: | CN114674755A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 岳猛猛;闫欣;高贵龙;何凯;辛丽伟;张杰;王迪;尹飞;汪韬;姚东;温珂瑶;李知兵;刘冲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/01 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 赵逸宸 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明为解决现有激光超声检测模式中激发与检测相对独立,难以实现激发即检测或同轴激发检测,同时检测方法中需要通过更换掩膜、透镜阵列或光纤阵列的方式实现不同阵列线源周期可调,难以实现阵列线源周期连续可调的技术问题,而提供了一种用于周期可调同轴激光超声检测的光学系统。该系统基于声光衍射和4f成像原理,激发光和探测光同轴入射声光晶体,被声光衍射的激发光在待测样品表面干涉诱导瞬态光栅,同轴入射的探测光被表面瞬态光栅衍射,衍射出的探测光携带了样品超声响应信息,返回4f系统后被分离检出,超声的激发和探测经过同一个4f系统完成,实现同轴激发与检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 周期 可调 同轴 激光 超声 检测 光学系统 | ||
【主权项】:
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