[发明专利]一种用于周期可调同轴激光超声检测的光学系统在审

专利信息
申请号: 202210256344.3 申请日: 2022-03-15
公开(公告)号: CN114674755A 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 岳猛猛;闫欣;高贵龙;何凯;辛丽伟;张杰;王迪;尹飞;汪韬;姚东;温珂瑶;李知兵;刘冲 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/01
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 赵逸宸
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明为解决现有激光超声检测模式中激发与检测相对独立,难以实现激发即检测或同轴激发检测,同时检测方法中需要通过更换掩膜、透镜阵列或光纤阵列的方式实现不同阵列线源周期可调,难以实现阵列线源周期连续可调的技术问题,而提供了一种用于周期可调同轴激光超声检测的光学系统。该系统基于声光衍射和4f成像原理,激发光和探测光同轴入射声光晶体,被声光衍射的激发光在待测样品表面干涉诱导瞬态光栅,同轴入射的探测光被表面瞬态光栅衍射,衍射出的探测光携带了样品超声响应信息,返回4f系统后被分离检出,超声的激发和探测经过同一个4f系统完成,实现同轴激发与检测。
搜索关键词: 一种 用于 周期 可调 同轴 激光 超声 检测 光学系统
【主权项】:
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