[发明专利]一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法有效
| 申请号： | 202210254392.9 | 申请日： | 2022-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN114360622B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 谭腾飞;纪璐璐 | 申请（专利权）人： | 南京芯驰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统，包括，测试向量生成器、逻辑内建自测试控制器，以及测试响应分析器，其中，所述测试向量生成器，其生成复位测试向量和伪随机测试向量，接受所示逻辑内建自测试控制器的指令，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路；所述逻辑内建自测试控制器，其分别控制所述测试向量生成器的信号的输出和控制所述测试响应分析器对待测电路进行测试；所述测试响应分析器，其接受所述逻辑内建自测试控制器的指令，对待测电路进行测试。本发明还提供一种逻辑内建自测试的复位电路测试方法，利用较少逻辑，解决了传统逻辑内建自测试中复位信号无法高度覆盖的问题，提高故障覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 逻辑 测试 复位 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
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