[发明专利]一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210252539.0 申请日: 2022-03-15
公开(公告)号: CN114597766B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 汪弢;龙敏 申请(专利权)人: 深圳市艾森智控科技有限公司
主分类号: H01T23/00 分类号: H01T23/00
代理公司: 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 代理人: 杨艳霞
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统,其中,该方法包括:采集获取纳米水离子发生装置的多维度工作参数,获得发生参数集合,其中,多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数;采集获取当前目标环境内的多维度污染参数,获得污染参数集合;根据污染参数集合内的污染程度,设置净化核验标准;根据发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化,判断净化结果是否满足净化核验标准;若净化结果满足净化核验标准,则持续进行净化,以及,若净化结果不满足净化核验标准,则基于净化核验标准,进行发生参数集合的优化;采用优化后的发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。
搜索关键词: 一种 纳米 离子 发生 参数 调节 方法 系统
【主权项】:
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