[发明专利]一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统有效
| 申请号: | 202210252539.0 | 申请日: | 2022-03-15 |
| 公开(公告)号: | CN114597766B | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
| 发明(设计)人: | 汪弢;龙敏 | 申请(专利权)人: | 深圳市艾森智控科技有限公司 |
| 主分类号: | H01T23/00 | 分类号: | H01T23/00 |
| 代理公司: | 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 | 代理人: | 杨艳霞 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统,其中,该方法包括:采集获取纳米水离子发生装置的多维度工作参数,获得发生参数集合,其中,多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数;采集获取当前目标环境内的多维度污染参数,获得污染参数集合;根据污染参数集合内的污染程度,设置净化核验标准;根据发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化,判断净化结果是否满足净化核验标准;若净化结果满足净化核验标准,则持续进行净化,以及,若净化结果不满足净化核验标准,则基于净化核验标准,进行发生参数集合的优化;采用优化后的发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 纳米 离子 发生 参数 调节 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市艾森智控科技有限公司,未经深圳市艾森智控科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210252539.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。





