[发明专利]一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210252539.0 申请日: 2022-03-15
公开(公告)号: CN114597766B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 汪弢;龙敏 申请(专利权)人: 深圳市艾森智控科技有限公司
主分类号: H01T23/00 分类号: H01T23/00
代理公司: 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 代理人: 杨艳霞
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 离子 发生 参数 调节 方法 系统
【说明书】:

发明提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统,其中,该方法包括:采集获取纳米水离子发生装置的多维度工作参数,获得发生参数集合,其中,多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数;采集获取当前目标环境内的多维度污染参数,获得污染参数集合;根据污染参数集合内的污染程度,设置净化核验标准;根据发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化,判断净化结果是否满足净化核验标准;若净化结果满足净化核验标准,则持续进行净化,以及,若净化结果不满足净化核验标准,则基于净化核验标准,进行发生参数集合的优化;采用优化后的发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。

技术领域

本发明涉及空气净化技术领域,具体涉及一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统。

背景技术

纳米水离子是目前市场中的一种空气净化技术,其具体通过给聚集的水分施加高电压,使其电离产生纳米水离子,通过产生的纳米水雾以及其内含有的OH自由基对空气中的颗粒物和微生物进行沉降灭活,达到净化目的。

目前纳米水离子发生器一般设置于空调或空气净化器内,通过根据净化需求调节功率,以该功率发生纳米水离子,达到空气净化的目的。

现有技术中需要根据主观经验调整纳米水离子发生器的功率,且调节空间较小,无法较为准确地适应环境的净化需求,存在着纳米水离子发生参数难以准确调节的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统,用于针对解决现有技术中存在的纳米水离子发生参数难以准确调节的技术问题。

鉴于上述问题,本申请提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统。

本申请的第一个方面,提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法,所述方法应用于一种纳米水离子的发生参数调节系统,所述系统包括一纳米水离子发生装置,所述方法包括:采集获取所述纳米水离子发生装置的多维度工作参数,获得发生参数集合,其中,所述多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数;采集获取当前目标环境内的多维度污染参数,获得污染参数集合;根据所述污染参数集合内的污染程度,设置净化核验标准;根据所述发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化,判断净化结果是否满足所述净化核验标准;若所述净化结果满足所述净化核验标准,则持续进行净化,以及,若所述净化结果不满足所述净化核验标准,则基于所述净化核验标准,进行所述发生参数集合的优化;采用优化后的所述发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。

本申请的第二个方面,提供了一种纳米水离子的发生参数调节系统,所述系统包括:第一获得单元,用于采集获取纳米水离子发生装置的多维度工作参数,获得发生参数集合,其中,所述多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数;第二获得单元,用于采集获取当前目标环境内的多维度污染参数,获得污染参数集合;第一处理单元,用于根据所述污染参数集合内的污染程度,设置净化核验标准;第一判断单元,用于根据所述发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化,判断净化结果是否满足所述净化核验标准;第二处理单元,用于若所述净化结果满足所述净化核验标准,则持续进行净化,以及,若所述净化结果不满足所述净化核验标准,则基于所述净化核验标准,进行所述发生参数集合的优化;第三处理单元,用于采用优化后的所述发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。

本申请的第三个方面,提供了一种纳米水离子的发生参数调节系统,包括:处理器,所述处理器与存储器耦合,所述存储器用于存储程序,当所述程序被所述处理器执行时,使系统以执行如第一方面所述方法的步骤。

本申请的第四个方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。

本申请中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

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