[发明专利]一种芯片测试设备及芯片测试方法在审
| 申请号： | 202210243152.9 | 申请日： | 2022-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN114660436A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 侯卫京;曹兴;林钦发;曾睿;黄余毅 | 申请（专利权）人： | 敦泰电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H04L69/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 韩丽波 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试设备及芯片测试方法，芯片测试方法应用于芯片测试设备，在进行待测芯片测试时，根据测试人员设置的配置文件来确定启动哪个测试应用程序，不同的配置文件对应的待测芯片的待测功能的测试应用程序不同，通过启动不同的测试应用程序来启动不同待测芯片的不同待测功能的测试项，最终根据得到的响应数据得到测芯片的待测功能的测试结果，当需要对不同厂家的芯片的不同功能进行测试时，只需要根据待测芯片的生产厂家及待测功能更改设置的配置文件即可实现对不同厂家的不同待测芯片的不同待测功能的测试，提高了芯片测试设备的通用性和兼容性，提高了测试效率，且更改设置配置文件的过程简单快捷，不需要专业的编程人员操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
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