[发明专利]中阶梯光栅闪耀角检测装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202210241219.5 申请日: 2022-03-11
公开(公告)号: CN114578466A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 糜小涛;周敬萱;江思博;高键翔;于宏柱;李文昊;巴音贺希格;江锐;徐向宇;刘广义;刘进文 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;北京科益虹源光电技术有限公司
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18;G01J1/04
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种中阶梯光栅闪耀角检测装置及其检测方法,方法包括:S1、确定中阶梯光栅的闪耀角,根据闪耀角对刻刀的安装角度进行粗调,以对基底刻划形成光栅试段,在基底未刻划的部分镀制金属膜;S2、将基底放置在转台上进行调整,使光垂直入射到金属膜,通过功率计测量各单色光的能量I0(x);S3、平移基底使光入射到光栅试段,当基底的转动角度为闪耀角时,利用功率计测量各衍射光的能量I(x);S6、根据I0(x)与I(x)计算光栅试段的各波长的衍射效率,通过调整刻刀的安装角度,直到中阶梯光栅的中心波长的衍射效率处于衍射效率峰值为止;S7、刻刀根据调整好的安装角度对中阶梯光栅进行刻划。本发明能够保证刻刀安装角的调整量准确无误,提升光栅的刻划效率。
搜索关键词: 阶梯 光栅 闪耀 检测 装置 及其 方法
【主权项】:
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