[发明专利]一种低温介质密度传感器标定方法在审

专利信息
申请号: 202210239126.9 申请日: 2022-03-11
公开(公告)号: CN114813455A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 苏韬;陈静;李山峰;申娟;宋建军;杨晓阳;王淮英;郭嘉翔 申请(专利权)人: 北京航天试验技术研究所
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 仇蕾安
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种低温介质密度传感器标定方法,步骤一、根据待测介质A1、使用中上限温度Tmax、下限温度Tmin,选择实验参考低温液体介质A0,A2;步骤二、在近似标准大气压下,测量传感器浸入A0中的电容C0,已知该条件下A0的相对介电常数εA0;步骤三、在近似标准大气压下,测量传感器浸入A2中的电容C2,已知该条件下A2的相对介电常数εA2;步骤四、将C0、C2代入公式C=K×ε+Cs求解得到传感器结构系数K,Cs;步骤五、在近似标准大气压下,测量传感器浸入A1中的电容C1,已知该条件下A1的相对介电常数εA1;步骤六、根据K,Cs,求出实测ε′A1,与已知εA1比较,并计算相对偏差。本发明利用正常大气压下的复现性好的液相沸点温度作为标定条件,在实验室条件下即可完成标定,具有简化操作,效率高、标定可靠等优点,应用效果良好。
搜索关键词: 一种 低温 介质 密度 传感器 标定 方法
【主权项】:
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