[发明专利]一种获取低空湍流强度廓线的方法及装置在审
申请号: | 202210181733.4 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114578455A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 侯再红;郭旭;张巳龙;何枫;秦来安;王浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01W1/08 | 分类号: | G01W1/08;G01S17/95;G01S7/48 |
代理公司: | 合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙) 34125 | 代理人: | 郭华俊 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于光波大气传输探测和工程应用领域,特别公开了一种获取低空湍流强度廓线的方法及装置。所述方法包括以下步骤:步骤S1:接收由激光信标产生的后向散射回波信号,在CCD相机上呈现至少一组由同一信标产生的两个光斑;步骤S2:分别获取光斑的质心位置和光强数据;步骤S3:根据质心位置计算出平行于以及垂直于每组光斑连线方向的质心起伏方差,计算每组所对应的大气相干长度;并对每组光斑的光强进行归一化处理,计算得到归一化结构函数;步骤S4:使用所述大气相干长度和归一化结构函数按照权重的不同联合计算出路径的湍流强度廓线。本发明技术方案简单,测量成本低,并能够有效的获取低空湍流强度廓线。 | ||
搜索关键词: | 一种 获取 低空 湍流 强度 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210181733.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。