[发明专利]一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法在审
| 申请号： | 202210165985.8 | 申请日： | 2022-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN114527374A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 牛沿笼 | 申请（专利权）人： | 上海天数智芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人： | 王磊 |
| 地址： | 201100 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法，基于GPGPU芯片的设计特点，根据顶层芯片的逻辑连接关系，把GPGPU芯片的设计分为计算逻辑模块和余下的SOC模块，从而分成两个Extest Mode分组：一组包含计算逻辑模块以及与之相连的SOC模块，另外一组包含所有的SOC模块。在此基础上，每组均控制所有的扫描链输入信号，根据GPGPU芯片提供的所有输入输出管脚数量，再次分组直到观测完所有的扫描链输出信号，对运算内存的需求大大降低，同时没有损失任何测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gpgpu 芯片 无损 extest mode 测试 方法 | ||
【主权项】：
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