[发明专利]存储器测试方法、系统、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210157495.3 | 申请日： | 2022-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN114627950A | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 韦王宇;潘超 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 | 代理人： | 周雷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出一种存储器测试方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：根据待测存储器的位宽，获取测试输入数据；根据测试输入数据，按照预设时序规则，构造测试元素；对待测存储器依次执行各个测试元素；预设时序规则满足如下条件：读完上一地址后，写当前地址，上一地址对应的单元存储值与当前地址对应的单元存储值不等，上一地址和当前地址在逻辑地址顺序上、在物理地址顺序上均相邻。本发明通过增加时序余量不足的测试元素，可以防止待测存储器发生漏检的情况，提高了该存储器测试方法的测试覆盖率，提高了出产存储器的合格率，降低了使用者的因芯片不合格而带来的损失。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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