[发明专利]一种多模式老化测试箱在审
| 申请号： | 202210155101.0 | 申请日： | 2022-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN116660704A | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 曹佶;梅山珊;李帅韬 | 申请（专利权）人： | 浙江杭可仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多模式老化测试箱，包括箱体及设置在所述箱体内的老化组件、电源、驱动组件、控制组件和多个电风门组件，老化组件与所述驱动组件电性连接，电源固定在所述老化组件的上端；电风门组件包括通风箱和电推杆，风机板设置在所述通风体的进风口上，转动板设置在通风体的出风口上，光轴穿过所述通风体，转动板与光轴转动连接，电推杆包括伸缩杆，伸缩杆与转动板固定连接，风机板上设置有多个第一风机，第一风机与控制组件电性连接，老化组件包括老化架和多个均水平地设置在老化架内壁上的第一老化板，多个电风门组件一一相对地设置在老化架的外壁上。其能减小各老化板之间的热干扰，也能实现多温度模式测试半导体芯片的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模式 老化 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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