[发明专利]用于光学成像能谱测量系统的质子灵敏度刻度装置及方法在审
| 申请号： | 202210151804.6 | 申请日： | 2022-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN114509802A | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 刘金良;欧阳晓平;何世熠;陈亮;张建福;杜雪;张显鹏;阮金陆 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 赵逸宸 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明为解决质子束灵敏度刻度实验中，不影响质子束与气体闪烁体相互作用前提下，对质子束强度实时准确在线测量的技术问题，而提出了一种用于光学成像能谱测量系统的质子灵敏度刻度装置及方法。该装置包括灵敏度刻度单元、加速单元和光学成像单元；所述灵敏度刻度单元与加速单元共轴；所述敏度刻度单元质子束入射窗口与加速单元质子束出射窗口均密封；所述灵敏度刻度单元上与质子束运动方向垂直的方向预留有气体荧光传输通道，且气体荧光传输通道密封；所述光学成像单元位于灵敏度刻度单元上其中一个气体荧光传输通道口的一侧。本发明提出的质子灵敏度刻度方法为实现光学方法脉冲中子能谱测量和应用于带电粒子束能谱及注量监测提供技术支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 成像 测量 系统 质子 灵敏度 刻度 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210151804.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
