[发明专利]一种芯片的测试电路、方法以及测试系统在审
| 申请号： | 202210148001.5 | 申请日： | 2022-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN114518527A | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 陈立志 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 郭化雨 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片的测试电路、方法以及测试系统，芯片的测试电路基于测试机发送的测试信号对芯片进行测试；该测试电路包括：开关、电感以及负载电容；开关的第一端连接测试机的第一电源或第二电源，开关的第二端连接芯片的电压输入端；电感的第一端连接测试机的第一电源，电感的第二端连接芯片的开关管；负载电容的第一端连接测试机的电压输出端以及芯片的电压输出端，第二端接地，并且测试机的电压输出端与芯片的电压输出端相连。通过测试电路连接芯片与测试机的不同电源，实现对芯片中多个功能模块的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 电路 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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