[发明专利]测试探针清洁方法的摩阻刮除方法有效

专利信息
申请号: 202210126256.1 申请日: 2020-11-28
公开(公告)号: CN114405887B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 贺涛;金永斌;丁宁;朱伟 申请(专利权)人: 法特迪精密科技(苏州)有限公司
主分类号: B08B1/00 分类号: B08B1/00;B08B7/00;B08B13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明测试探针清洁方法的摩阻刮除方法涉及半导体技术领域;具体为:通过进气管对套管上端侧壁上开有的进气孔输入气体,在压力的作用下推动活塞向下移动,推动传动杆克服复位弹簧的弹力作用,进而带动移动片向下移动,通过弹性件推动刮除件向下移动,向下移动的刮除件与梅花探头的上端面棱角处相对应,并在弹性件的弹力的作用下,使刮除件的下端面紧密贴靠在梅花探头的棱角端面上,并沿着其向下移动至梅花探头的底部时,再通过进气管对套管上端侧壁上开有的进气孔进行吸气,逆向重复之前过程;本发明应用于测试探针清洁方法,能够有效代替人工清洁,保证了清洁质量和测试效率。
搜索关键词: 测试 探针 清洁 方法 摩阻刮
【主权项】:
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