[发明专利]测试探针清洁方法的摩阻刮除方法有效
申请号: | 202210126256.1 | 申请日: | 2020-11-28 |
公开(公告)号: | CN114405887B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 贺涛;金永斌;丁宁;朱伟 | 申请(专利权)人: | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | B08B1/00 | 分类号: | B08B1/00;B08B7/00;B08B13/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明测试探针清洁方法的摩阻刮除方法涉及半导体技术领域;具体为:通过进气管对套管上端侧壁上开有的进气孔输入气体,在压力的作用下推动活塞向下移动,推动传动杆克服复位弹簧的弹力作用,进而带动移动片向下移动,通过弹性件推动刮除件向下移动,向下移动的刮除件与梅花探头的上端面棱角处相对应,并在弹性件的弹力的作用下,使刮除件的下端面紧密贴靠在梅花探头的棱角端面上,并沿着其向下移动至梅花探头的底部时,再通过进气管对套管上端侧壁上开有的进气孔进行吸气,逆向重复之前过程;本发明应用于测试探针清洁方法,能够有效代替人工清洁,保证了清洁质量和测试效率。 | ||
搜索关键词: | 测试 探针 清洁 方法 摩阻刮 | ||
【主权项】:
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