[发明专利]测试探针清洁方法的摩阻刮除方法有效
申请号: | 202210126256.1 | 申请日: | 2020-11-28 |
公开(公告)号: | CN114405887B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 贺涛;金永斌;丁宁;朱伟 | 申请(专利权)人: | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | B08B1/00 | 分类号: | B08B1/00;B08B7/00;B08B13/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 探针 清洁 方法 摩阻刮 | ||
1.测试探针清洁方法的摩阻刮除方法,在测试探针清洁装置上实现,应用于测试探针清洁方法,所述测试探针清洁方法包括以下步骤:步骤a、探针固定;步骤b、吸附安装;步骤c、对准调节;步骤d、摩阻刮除;步骤e、粘性吸附;其特征在于:所述测试探针清洁方法的摩阻刮除方法,通过进气管对套管(1-1)上端侧壁上开有的进气孔进行输入气体,以增加密封片(1-2)和活塞(1-5)之间的密闭空间的气压,在压力的作用下推动活塞(1-5)向下移动,向下移动的活塞(1-5)推动传动杆(1-8)克服复位弹簧(1-16)的弹力作用,进而带动移动片(1-9)向下移动,向下移动的移动片(1-9)通过弹性件(1-10)推动刮除件(1-11)向下移动,向下移动的刮除件(1-11)与梅花探头的上端面棱角处相对应,并在弹性件(1-10)的弹力的作用下,使刮除件(1-11)的下端面紧密贴靠在梅花探头的棱角端面上,并沿着其向下移动,待移动至梅花探头的底部时,再通过进气管对套管(1-1)上端侧壁上开有的进气孔进行吸气,以减小密封片(1-2)和活塞(1-5)之间的密闭空间的气压,在压力的作用下拉动活塞(1-5)向上移动,向上移动的活塞(1-5)和复位弹簧(1-16)的弹力作用带动传动杆(1-8)向上移动,进而带动移动片(1-9)向上移动,向上移动的移动片(1-9)通过弹性件(1-10)推动刮除件(1-11)向上移动,并在弹性件(1-10)的弹力的作用下,使刮除件(1-11)的下端面紧密贴靠在梅花探头的棱角端面上,并沿着其向上移动,待完成预设的往复的次数后,完成摩阻刮除,此时通过对密封片(1-2)和活塞(1-5)之间的气压控制,并通过传动杆(1-8)、移动片(1-9)使刮除件(1-11)与测试探针(5)分离,此时停止对进气管输入或输出气体;
所述测试探针清洁装置包括清洁构件(1)、夹持构件(2)、测试插座(3)、测试基座(4)和测试探针(5);所述清洁构件(1)上方设置有夹持构件(2),所述清洁构件(1)下方设置有测试插座(3),所述测试插座(3)安装在测试基座(4)上,所述夹持构件(2)能够通过传动机械臂移动控制测试插座(3)上方的清洁构件(1),能够使清洁构件(1)移动至测试插座(3)内,并与测试插座(3)内的测试探针(5)的探头贴合抵靠,以完成对测试探针(5)的先刮除累积杂质,再将杂质灰尘从测试插座(3)内吸附清除的工作;
所述清洁构件包括套管(1-1)、密封片(1-2)、安装板(1-3)、限位片(1-4)、活塞(1-5)、主动梯形齿轮(1-6)、从动梯形齿轮(1-7)、传动杆(1-8)、移动片(1-9)、弹性件(1-10)、刮除件(1-11)、螺纹套筒(1-12)、传动轴(1-13)、固定片(1-14)、清洁软胶(1-15)、复位弹簧(1-16)和输出长轴(1-17);所述套管(1-1)通过密封片(1-2)阵列设置在安装板(1-3)下端面上,活塞(1-5)下端的主动梯形齿轮(1-6)和从动梯形齿轮(1-7)相啮合,所述从动梯形齿轮(1-7)两端对称设置有传动杆(1-8),传动杆(1-8)的一端与活塞(1-5)的一端相连,传动杆(1-8)的另一端穿过两个限位片(1-4)与移动片(1-9)上端面相连,移动片(1-9)下端面通过弹性件(1-10)陈列设置有多个刮除件(1-11),所述从动梯形齿轮(1-7)通过螺纹套筒(1-12)转动设置在下层限位片(1-4)上,所述传动轴(1-13)上端穿过螺纹套筒(1-12)并与螺纹套筒(1-12)相配合,传动轴(1-13)的另一端与固定片(1-14)相连接,所述固定片(1-14)下端设置有清洁软胶(1-15),位于两个限位片(1-4)之间的传动轴(1-13)上设置有复位弹簧(1-16),所述传动电机设置在一侧的套管(1-1)侧壁上,传动电机的输出端与输出长轴(1-17)相连,所述输出长轴(1-17)穿过阵列设置的套管(1-1),套管(1-1)内的从动梯形齿轮(1-7)设置在输出长轴(1-17)上,所述刮除件(1-11)能够通过活塞(1-5)进行上下往复运动,并通过弹性件(1-10)使刮除件(1-11)的下端面与测试探针(5)的探头的梅花尖端相抵靠,以对梅花尖端上累积的杂质进行刮除,所述清洁软胶(1-15)能够将清洁的杂质、灰尘进行粘吸在清洁软胶(1-15)表面,进而从测试插座(3)内将杂质灰尘清除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于法特迪精密科技(苏州)有限公司,未经法特迪精密科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210126256.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测试探针清洁方法的粘性吸附方法
- 下一篇:一种防破水热熔胶膜及其制备方法