[发明专利]一种测试方法、装置、芯片及模组设备在审
| 申请号： | 202210109157.2 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN114510421A | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 李宁;王鹏 | 申请（专利权）人： | 紫光展锐（重庆）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 夏秋 |
| 地址： | 400700 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试方法、装置、芯片及模组设备，该方法包括：获取测试文件中对应的元素信息和属性信息，元素信息对应有元素的处理方式，属性信息对应有属性的处理方式；基于元素信息和元素的处理方式、属性信息和属性的处理方式测试第一被测代码，得到测试结果；输出测试结果。采用本申请所描述的方法，有利于提高开发人员的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 芯片 模组 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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