[发明专利]光场测量方法、装置及存储介质有效
申请号: | 202210102594.1 | 申请日: | 2022-01-27 |
公开(公告)号: | CN114441051B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 淳秋垒;余霞;李榕;闫大鹏 | 申请(专利权)人: | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01J3/28;G01J9/02 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 杨婉秋 |
地址: | 430000 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请涉及一种光场测量方法、装置及存储介质,该方法包括:依次以多个预设相位差分别对激光器出射的激光束进行分光,而得到对应的多对光束,每对光束中两个光束的相位差为对应的预设相位差;分别对多对光束进行倍频以得到对应的多个倍频光束,并获取多个倍频光束的实测光谱信息;基于实测光谱信息进行至少一次迭代以确定激光束的预测光场信息;根据预测光场信息和多个预设相位差,确定多个倍频光束的预测光谱信息;根据多个倍频光束的预测光谱信息和实测光谱信息,确定累计误差;根据累计误差确定激光束的光场测量结果,从而提供了一种迭代复原激光器光场信息的新方法,以缩短迭代复原出激光器(尤其是飞秒激光器)的光场信息所需的时间。 | ||
搜索关键词: | 测量方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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