[发明专利]光场测量方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210102594.1 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN114441051B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 淳秋垒;余霞;李榕;闫大鹏 申请(专利权)人: 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J3/28;G01J9/02
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨婉秋
地址: 430000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及一种光场测量方法、装置及存储介质,该方法包括:依次以多个预设相位差分别对激光器出射的激光束进行分光,而得到对应的多对光束,每对光束中两个光束的相位差为对应的预设相位差;分别对多对光束进行倍频以得到对应的多个倍频光束,并获取多个倍频光束的实测光谱信息;基于实测光谱信息进行至少一次迭代以确定激光束的预测光场信息;根据预测光场信息和多个预设相位差,确定多个倍频光束的预测光谱信息;根据多个倍频光束的预测光谱信息和实测光谱信息,确定累计误差;根据累计误差确定激光束的光场测量结果,从而提供了一种迭代复原激光器光场信息的新方法,以缩短迭代复原出激光器(尤其是飞秒激光器)的光场信息所需的时间。
搜索关键词: 测量方法 装置 存储 介质
【主权项】:
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