[发明专利]光场测量方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210102594.1 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN114441051B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 淳秋垒;余霞;李榕;闫大鹏 申请(专利权)人: 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J3/28;G01J9/02
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨婉秋
地址: 430000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 测量方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种光场测量方法,其特征在于,包括:

依次以多个预设相位差分别对激光器出射的激光束进行分光,而得到对应的多对光束,每对所述光束中两个所述光束的相位差为对应的所述预设相位差;

分别对多对所述光束进行倍频以得到对应的多个倍频光束,并获取多个所述倍频光束的实测光谱信息;

基于所述实测光谱信息进行至少一次迭代以确定所述激光束的预测光场信息;

根据所述预测光场信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测光谱信息;

根据多个所述倍频光束的所述预测光谱信息和所述实测光谱信息,确定累计误差;

根据所述累计误差确定所述激光束的光场测量结果。

2.根据权利要求1所述的光场测量方法,其特征在于,所述根据所述累计误差确定所述激光束的光场测量结果,具体包括:

当所述累计误差小于预设阈值时,将所述预测光场信息作为所述激光束的光场测量结果;

当所述累计误差大于等于所述预设阈值时,进行下一次迭代,以更新所述激光束的所述预测光场信息,之后返回执行所述根据所述预测光场信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测光谱信息的步骤。

3.根据权利要求2所述的光场测量方法,其特征在于,所述进行下一次迭代,以更新所述激光束的所述预测光场信息,具体包括:

根据最近两次迭代的结果,确定对应的振幅梯度因子和相位梯度因子;

基于所述实测光谱信息和所述振幅梯度因子对最近一次迭代的结果所包含的振幅进行更新,并基于所述相位梯度因子对最近一次迭代的结果所包含的相位进行更新,以得到所述下一次迭代的结果;

基于更新后的所述振幅和所述相位,更新所述预测光场信息所包含的谱域信息;

基于更新后的所述谱域信息,更新所述预测光场信息所包含的时域信息。

4.根据权利要求1所述的光场测量方法,其特征在于,所述根据多个所述倍频光束的所述预测光谱信息和所述实测光谱信息,确定累计误差,具体包括:

确定每一所述倍频光束的所述预测光谱信息和所述实测光谱信息的差值的绝对值,以得到每一所述倍频光束的预测误差;

确定多个所述倍频光束的预测误差的均方根值,以得到累计误差。

5.根据权利要求1所述的光场测量方法,其特征在于,所述根据所述预测光场信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测光谱信息,具体包括:

根据所述预测光场信息所包含的时域信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测时域信息;

分别对多个所述倍频光束的所述预测时域信息进行傅里叶变换并乘以自身共轭,以对应得到多个所述倍频光束的预测光谱信息。

6.一种光场测量装置,其特征在于,包括:

分光模块,用于依次以多个预设相位差分别对激光器出射的激光束进行分光,而得到对应的多对光束,每对所述光束中两个所述光束的相位差为对应的所述预设相位差;

倍频模块,用于分别对多对所述光束进行倍频以得到对应的多个倍频光束,并获取多个所述倍频光束的实测光谱信息;

第一确定模块,用于基于所述实测光谱信息进行至少一次迭代以确定所述激光束的预测光场信息;

第二确定模块,用于根据所述预测光场信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测光谱信息;

第三确定模块,用于根据多个所述倍频光束的所述预测光谱信息和所述实测光谱信息,确定累计误差;

第四确定模块,用于根据所述累计误差确定所述激光束的光场测量结果。

7.根据权利要求6所述的光场测量装置,其特征在于,所述第四确定模块具体用于:

当所述累计误差小于预设阈值时,将所述预测光场信息作为所述激光束的光场测量结果;

当所述累计误差大于等于所述预设阈值时,进行下一次迭代,以更新所述激光束的所述预测光场信息,之后触发所述第二确定模块重新执行所述根据所述预测光场信息和多个所述预设相位差,确定多个所述倍频光束的预测光谱信息。

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