[发明专利]一种硅基组件的互连测试夹具及互连测试方法在审
| 申请号： | 202210095052.6 | 申请日： | 2022-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN114414978A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 潘鹏辉;吴道伟;姚华;唐磊;薛宇航 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 房鑫 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种硅基组件的互连测试夹具及互连测试方法，属于先进电子封装技术领域，硅基组件的互连测试夹具包括真空吸附孔、X轴限位挡块、Y轴限位挡块和测试区域Z平面调节器，实现三维调节被测件，解决了不同硅基组件的夹持和兼容性问题，规避了碎片风险，达到了测试夹具通用和方便使用的目的；互连测试方法利用隔离技术进行直流和交流特性测试，通过减少生成电流分支来减小测试误差，确保了量测值的精准性；实现了微系统组件层级的测试，在功能性能测试前即可检测出大部分故障组件，提高了最终功能性能测试直通率，避免了后续质量隐患和资源浪费，有效提升了网络的测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 组件 互连 测试 夹具 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安微电子技术研究所，未经西安微电子技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210095052.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种葛根醋饮料及其制备方法
- 下一篇：一种可分离式定位装置
