[发明专利]一种单像素成像的信号检验方法在审

专利信息
申请号: 202210091027.0 申请日: 2022-01-26
公开(公告)号: CN114449258A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 张健;何睿清;包永强;魏峘;余辉龙;赵静;覃翠 申请(专利权)人: 南京工程学院
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N9/67;H04N9/31
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人: 徐燕
地址: 211167 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种单像素成像的信号检验方法,包括:单像素探测器根据被探测物体的大小设计采样矩阵并进行采样;将采样矩阵分成多组,每组包含C个采样矩阵,将每组的C个采样矩阵按照r行列的方式进行排列,针对每组的C个采样矩阵,对每一行的采样矩阵进行整合得到子矩阵,对每一列的采样矩阵进行整合得到子矩阵,并通过计算子矩阵和子矩阵各自的检验矩阵或投影矩阵来判断具体产生错误信号的采样矩阵所在位置,以实现在信号采集过程的检验。
搜索关键词: 一种 像素 成像 信号 检验 方法
【主权项】:
暂无信息
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