[发明专利]一种单像素成像的信号检验方法

权利要求书

1.一种单像素成像的信号检验方法，其特征在于，包括：

单像素探测器根据被探测物体的大小设计采样矩阵并进行采样；

将采样矩阵分成多组，每组包含C个采样矩阵，将每组的C个采样矩阵按照r行s列的方式进行排列，且对应组中每个采样矩阵所对应的采集信号为y_ij，其中采集信号y_ij中的i表示对应采样矩阵所在的行数，即i的范围在[1,r]；j表示对应采样矩阵所在的列数，即j的范围在[1,s]；

针对每组的C个采样矩阵，将每一行f中的采样矩阵元素进行累加，得到每一行新的子矩阵A_f，其中f的范围在[1,r]；根据子矩阵A_f计算对应一行中的采样矩阵的错误信号判定值T_f，并根据错误信号判定值T_f的取值判断对应一行中的采样矩阵中是否存在错误信号；

针对每组的C个采样矩阵，将每一列g中的采样矩阵元素进行累加，得到每一列新的子矩阵A_g，其中g的范围在[1,s]；根据子矩阵A_g计算对应一列中的采样矩阵的错误信号判定值T_g，并根据错误信号判定值T_g的取值判断对应一列中的采样矩阵中是否存在错误信号；

根据错误信号判定值T_f判断产生错误信号的采样矩阵所在行数，根据错误信号判定值T_g判断产生错误信号的采样矩阵所在列数，进而得知错误信号产生的具体位置。

2.根据权利要求1所述的一种单像素成像的信号检验方法，其特征在于，根据子矩阵A_f计算对应一行中的采样矩阵的错误信号判定值T_f的具体内容为：

将子矩阵A_f中的每个元素用二进制进行表示，取出每个元素对应二进制中相同位置的数值构建成检验矩阵，每个子矩阵A_f共计k个检验矩阵；利用检验矩阵调制图样，得到对应检验矩阵的采集信号t_l，其中采集信号t_l中的l表示任意一个检验矩阵，即l的范围在[0,k-1]；并计算对应子矩阵A_f的错误信号判定值

3.根据权利要求2所述的一种单像素成像的信号检验方法，其特征在于，根据错误信号判定值T_f的取值判断对应一行中的采样矩阵中是否存在错误信号的具体内容为：

当T_f＜1％时，则判定T_f所对应的子矩阵A_f存在错误信号，进而判断子矩阵A_f所关联对应一行中的采样矩阵存在错误信号；当T_f≥1％时，则判定T_f所对应的子矩阵A_f没有错误信号，进而判断子矩阵A_f所关联对应一行中的采样矩阵没有错误信号。

4.根据权利要求2所述的一种单像素成像的信号检验方法，其特征在于，每个子矩阵A_f共计k个投影矩阵中k的数值计算公式为：

k＝[log₂s]+1

式中，[log₂s]表示对log₂s的数值进行高位取整。

5.根据权利要求1所述的一种单像素成像的信号检验方法，其特征在于，根据子矩阵A_g计算对应一列中的采样矩阵的错误信号判定值T_g的具体内容为：

将子矩阵A_g中的每个元素用二进制进行表示，取出每个元素对应二进制中相同位置的数值构建成投影矩阵，每个子矩阵A_g共计k'个投影矩阵；利用投影矩阵调制图样，得到对应投影矩阵的采集信号t_l'，其中采集信号t_l'中的l'表示任意一个投影矩阵，即l'的范围在[0,k'-1]；并计算对应子矩阵A_g的错误信号判定值