[发明专利]薄膜电路外观检测设备和薄膜电路外观检测结构有效
申请号: | 202210085319.3 | 申请日: | 2022-01-25 |
公开(公告)号: | CN114441532B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 覃杨;邹巍 | 申请(专利权)人: | 广州诺顶智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/01 |
代理公司: | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人: | 潘桂生 |
地址: | 510000 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供薄膜电路外观检测设备和薄膜电路外观检测结构,薄膜电路外观检测装置包括底座、面板、负压装置、光源和外观检测机构;底座设置有第一安装槽;面板设置于底座上方,并与第一安装槽围合形成一密闭腔体;面板包括透光面板以及环状设置于透光面板边缘外的真空面板;真空面板贯穿开设有若干吸附孔,若干吸附孔沿真空面板周向排布,且每一吸附孔均与密闭腔体相连通;负压装置与密闭腔体相连通;光源以及外观检测机构分别设置于透光面板的两侧;薄膜电路置于面板远离底座的一面,并盖设于吸附孔的上方。薄膜电路可被平整展开,且光源可为薄膜电路补光,外观检测机构可得到更清晰的图像。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 电路 外观 检测 设备 结构 | ||
【主权项】:
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