[发明专利]一种耐冲击晶片电阻器及晶片电阻器的制造方法有效

专利信息
申请号: 202210060875.5 申请日: 2022-01-19
公开(公告)号: CN114334321B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 陈燕灵;陈奕生 申请(专利权)人: 深圳市宏远立新电子有限公司
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C1/024;H01C1/084;H01C17/00
代理公司: 深圳市鼎圣霏凡专利代理事务所(普通合伙) 44759 代理人: 徐晶
地址: 518000 广东省深圳市龙岗*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种耐冲击晶片电阻器及晶片电阻器的制造方法,涉及电阻器技术领域,包括电阻器本体,所述电阻器本体还包括安装在底部的基板,所述基板顶部固定连接阻抗元素,所述阻抗元素顶部安装有基层密封层,所述基层密封层顶部固定连接第二层密封层,所述基板一侧安装有内端面,所述内端面外表面安装有中端面,所述中端面外表面固定连接外端面,所述基板顶部安装有第一导电板,所述第一导电板一侧固定连接陶瓷管,所述陶瓷管一端安装有第二导电板,所述陶瓷管外表面套接镍线,所述基板还安装有导电板一,本发明具有制作成本低、使用寿命长、耐高温、氧化和耐腐蚀性好的优点,提高了晶片电阻器的耐冲击性能、安全性和稳定性。
搜索关键词: 一种 冲击 晶片 电阻器 制造 方法
【主权项】:
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