[发明专利]纳米材料单晶应力场耦合电化学测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 202210052931.0 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114354726B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 刘向晔;陈继鹏;官操;张平婷 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01N27/416 分类号: G01N27/416;G01N27/30;G01N27/48;G01B11/16;B33Y80/00
代理公司: 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 代理人: 高凌君
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种纳米材料单晶应力场耦合电化学测试装置及方法,解决现有测试方法无法实现二维材料定量应变下的电化学测试问题。测试装置包括光学显微镜、电化学工作站、电化学原位测试单元和应力施加单元;电化学原位测试单元包括自上而下配合安装的测试主体以及测试底座;应力施加单元包括探针、探针夹持组件以及三维移动平台;探针通过探针夹持组件竖直安装在三维移动平台上,探针在三维移动平台的调节下,对置于测试底座上的柔性衬底施加机械应力,使待测纳米材料发生应变;光学显微镜通过小孔测量待测纳米材料产生的应变量;电化学工作站测量应变量下测量待测纳米材料的电化学性能。
搜索关键词: 纳米 材料 单晶应 力场 耦合 电化学 测试 装置 方法
【主权项】:
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