[发明专利]一种对芯片进行测试的系统及方法在审
| 申请号： | 202210042573.5 | 申请日： | 2022-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114201351A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 张波;熊俊 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯存科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种对芯片进行测试的系统及方法，该系统包括通讯单元、处理器、接口单元和电源管理单元；所述电源管理单元分别与所述通讯单元、所述处理器和所述接口单元连接；所述通讯单元与处理器连接，所述处理器与所述接口单元连接；所述接口单元至少包括第一芯片接口和第二芯片接口，以承载相应的芯片；所述通讯单元用于与上位机通讯；所述处理器用于根据所述第一芯片接口和所述第二芯片接口的测试需求，调整所述电源管理单元的电源输出，还用于对待测芯片进行测试。在本申请中，该系统包括至少两种芯片接口，可以对两种不同的芯片进行测试，兼容性较高，还可以提高芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 进行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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