[发明专利]一种基于贝叶斯优化的多Testbench模拟电路优化方法在审

专利信息
申请号: 202210039711.4 申请日: 2022-01-13
公开(公告)号: CN116484787A 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 曾璇;严昌浩;毕朝日;杨帆;周电;赵婧尧 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G06F30/373 分类号: G06F30/373;G06F30/398
代理公司: 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 代理人: 吴桂琴
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属集成电路设计技术领域,具体涉及一种基于贝叶斯优化(Bayesian Optimization)的模拟电路优化方法,该方法采用高斯过程(Gaussian Process)建模,并利用带约束预测熵搜索(PESC)和可行域期望提升(FEI)作为采集函数。本发明提出对模拟电路的各个性能指标分别建立高斯过程模型;通过优化PESC/wPESC采集函数,产生下一轮迭代优化需要仿真的Testbench和相应仿真点;通过对可行域期望提升采集函数求解一个多模态优化问题,提升探索未知可行域的效率。与现有技术的模拟电路优化方法相比,本方法在保证电路优化质量的同时,能够显著减少优化过程中所需电路仿真的次数。
搜索关键词: 一种 基于 贝叶斯 优化 testbench 模拟 电路 方法
【主权项】:
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